Solid sampling colloquia : Third International Colloquium 10-12 October 1988, Wetzlar : reisverslag

Nog altijd is ontsluiting enjof het in oplossing brengen van het vaste analysemonster de meest gebruikelijke benadering, alvorens atomaire spectroscopische technieken toe te passen. De directe analyse van vaste stoffen, een relatief nieuwe ontwikkeling in de spoorelementanalyse, wordt echter in toenemende mate toegepast. Dit is het gevolg van de ontwikkeling van de analyseapparatuur en vooral de commerciële introduktie van apparatuur met Zeeman-achtergrondcorrectie voor grafietoven- AAS. Door de analyse van vaste stoffen kan niet alleen een aanzienlijke tijdwinst worden geboekt, maar kunnen tevens fouten, zoals contaminatie of juist verliezen, die gedurende de monsteronsluiting worden geïntroduceerd, worden geëlimineerd. Aan de directe vaste-stofanalyse is echter ook een aantal problemen verbonden, zoals de monsterintroduktie. De kalibratie en het beperkte dynamisch bereik van de grafietoven-techniek. De analyse van suspensies (slurries) biedt de mogelijkheid een aantal problemen die optreden bij de vaste-stofintroduktie te vermijden. Bovendien is het mogelijk slurries in een vlam of een plasma te introduceren. Met name op het gebied van de multi-elementanalyse, zoals ICP -AES enjof ICP-HS zijn de ontwikkelingen veelbelovend. Gelet op bovenstaande ontwikkelingen is het voor het RIKILT van belang zich meer intensief met deze analysemethodieken bezig te houden. Teneinde zoveel mogelijk (praktische) kennis te vergaren en kontakten te leggen werd deelgenomen aan het derde internationale colloquium ''Solid Sampling with Optical Atomie Spectroscopy". Het colloquium werd gehouden van 10-12 oktober te Wetzlar in West-Duitsland, de bakermat van de vaste-stofanalyse m.b.v. grafietoven-AAS . Tijdens het colloquium kwamen de volgende items aan de orde: - theorie en instrumentatie, - methodiek - toepassingen a) anorganische toepassingen, produkt- en kwaliteitscontrole b) toepassingen in biologisch en milieukundig onderzoek.