@book{30dad27f00594e5e98b667f1212aa4a9,
title = "Mogelijkheden van {"}yield mapping{"} op basis van gewasreflectiemetingen",
keywords = "cartografie, oogsttoename, oogstverliezen, aardappelzetmeel, aardappelen, fabrieksaardappelen, mapping, yield increases, yield losses, potato starch, potatoes, starch potatoes",
author = "E.J.J. Meurs and C. Grashoff and R. Booij",
year = "1999",
language = "Nederlands",
series = "Nota / Dienst Landbouwkundig Onderzoek, Instituut voor Agrobiologisch en Bodemvruchtbaarheidsonderzoek",
publisher = "AB-DLO",
number = "199",
address = "Netherlands",
}