Geïntegreerde teelt lelie

M. de Boer, S.J. Breeuwsma, A.M. van der Lans, C.G.M. Conijn, J. van Doorn, K.T.K. Pham, B.J. Kok, G.W. Korthals

    Research output: Contribution to conferencePosterProfessional

    Abstract

    Onkruid, virus, katoenluis, schimmels, mijten en aaltjes veroorzaken tijdens de teelt en bewaring problemen. Hiervoor zijn al oplossingen ontwikkeld. Doel van het onderzoek is bestaande oplossingen te testen in een geïntegreerde beheersstrategie
    Original languageDutch
    Publication statusPublished - 2008

    Keywords

    • integrated control
    • plant protection
    • lilium
    • lilies
    • weed control
    • fungus control
    • pest control

    Cite this

    de Boer, M., Breeuwsma, S. J., van der Lans, A. M., Conijn, C. G. M., van Doorn, J., Pham, K. T. K., ... Korthals, G. W. (2008). Geïntegreerde teelt lelie.
    de Boer, M. ; Breeuwsma, S.J. ; van der Lans, A.M. ; Conijn, C.G.M. ; van Doorn, J. ; Pham, K.T.K. ; Kok, B.J. ; Korthals, G.W. / Geïntegreerde teelt lelie.
    @conference{b2e6d202aaa14d2b8cc95ccf5f04e07f,
    title = "Ge{\"i}ntegreerde teelt lelie",
    abstract = "Onkruid, virus, katoenluis, schimmels, mijten en aaltjes veroorzaken tijdens de teelt en bewaring problemen. Hiervoor zijn al oplossingen ontwikkeld. Doel van het onderzoek is bestaande oplossingen te testen in een ge{\"i}ntegreerde beheersstrategie",
    keywords = "ge{\"i}ntegreerde bestrijding, gewasbescherming, lilium, lelies, onkruidbestrijding, schimmelbestrijding, plagenbestrijding, integrated control, plant protection, lilium, lilies, weed control, fungus control, pest control",
    author = "{de Boer}, M. and S.J. Breeuwsma and {van der Lans}, A.M. and C.G.M. Conijn and {van Doorn}, J. and K.T.K. Pham and B.J. Kok and G.W. Korthals",
    year = "2008",
    language = "Dutch",

    }

    de Boer, M, Breeuwsma, SJ, van der Lans, AM, Conijn, CGM, van Doorn, J, Pham, KTK, Kok, BJ & Korthals, GW 2008, 'Geïntegreerde teelt lelie'.

    Geïntegreerde teelt lelie. / de Boer, M.; Breeuwsma, S.J.; van der Lans, A.M.; Conijn, C.G.M.; van Doorn, J.; Pham, K.T.K.; Kok, B.J.; Korthals, G.W.

    2008.

    Research output: Contribution to conferencePosterProfessional

    TY - CONF

    T1 - Geïntegreerde teelt lelie

    AU - de Boer, M.

    AU - Breeuwsma, S.J.

    AU - van der Lans, A.M.

    AU - Conijn, C.G.M.

    AU - van Doorn, J.

    AU - Pham, K.T.K.

    AU - Kok, B.J.

    AU - Korthals, G.W.

    PY - 2008

    Y1 - 2008

    N2 - Onkruid, virus, katoenluis, schimmels, mijten en aaltjes veroorzaken tijdens de teelt en bewaring problemen. Hiervoor zijn al oplossingen ontwikkeld. Doel van het onderzoek is bestaande oplossingen te testen in een geïntegreerde beheersstrategie

    AB - Onkruid, virus, katoenluis, schimmels, mijten en aaltjes veroorzaken tijdens de teelt en bewaring problemen. Hiervoor zijn al oplossingen ontwikkeld. Doel van het onderzoek is bestaande oplossingen te testen in een geïntegreerde beheersstrategie

    KW - geïntegreerde bestrijding

    KW - gewasbescherming

    KW - lilium

    KW - lelies

    KW - onkruidbestrijding

    KW - schimmelbestrijding

    KW - plagenbestrijding

    KW - integrated control

    KW - plant protection

    KW - lilium

    KW - lilies

    KW - weed control

    KW - fungus control

    KW - pest control

    M3 - Poster

    ER -

    de Boer M, Breeuwsma SJ, van der Lans AM, Conijn CGM, van Doorn J, Pham KTK et al. Geïntegreerde teelt lelie. 2008.