Abstract
Ontwikkelen van een meettechniek waarmee de intrinsieke kwaliteit van potplanten tijdens de teelt gemeten kan worden. Uit deelproject 2 blijkt dat symptomen van lichtstress in een vroeg stadium met MIPS gemeten kunnen worden bij zowel Ficus als Anthurium. Van belang is om na te gaan of al voordat uitwendige chlorose zichtbaar is aan het gewas, afwijkingen worden geconstateerd in de fotosynthese-efficiënte middels de metingen van de MIPS, zodat daarop geanticipeerd kan worden door de teler.
| Original language | Dutch |
|---|---|
| Place of Publication | Wageningen |
| Publisher | DLV Plant |
| Number of pages | 38 |
| Publication status | Published - 2008 |
Keywords
- greenhouse horticulture
- pot plants
- ornamental crops
- ficus
- anthurium scherzerianum
- quality
- light regime
- chlorosis